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Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals


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Produktinformationen
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Artikel-Nr.:
     5667A-9783319888989
Hersteller:
     Springer Verlag
Herst.-Nr.:
     9783319888989
EAN/GTIN:
     9783319888989
Suchbegriffe:
Physik- und Astronomiebücher - engl...
Physik-, Astronomiebücher
Physik-Bücher
physik-, astronomiebücher
A Scanning Probe Microscopy Approach
Weitere Informationen:
Author:
Nicholas D. Kay
Verlag:
Springer International Publishing
Sprache:
eng
Weitere Suchbegriffe: Nano Electromechanical Resonator, Nano Mechanics, 2D Crystals, Atomic Force Microscopy, Heterodyne Force Microscopy, 2D Nanoelectromechanical Properties, Ultrasonic Force Microscopy, Subsurface Mechanical Properties, Nanoelectromechanical Properties of 2D Materials
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